急求《微机原理》 test Al,0 是否会改变标志和改变哪一个标志位
来源:学生作业帮 编辑:搜狗做题网作业帮 分类:英语作业 时间:2024/07/08 21:50:14
急求《微机原理》 test Al,0 是否会改变标志和改变哪一个标志位
test al,0 是否会改变标志位.还有test是否还有其它用法
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Test对两个参数(目标,源)执行AND逻辑操作,并根据结果设置标志寄存器,结果本身不会保存.TEST AX,BX 与 AND AX,BX 命令有相同效果
影响标志: C,O,P,Z,S(其中C与O两个标志会被设为0)
该指令还可以用来测试一方寄存器是否为空:
test ecx, ecx
jz somewhere
如果ecx为零,设置ZF零标志为1,Jz跳转
影响标志: C,O,P,Z,S(其中C与O两个标志会被设为0)
该指令还可以用来测试一方寄存器是否为空:
test ecx, ecx
jz somewhere
如果ecx为零,设置ZF零标志为1,Jz跳转
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