某型号的电子设备的寿命x服从指数分布,数学期望ex=1000
来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/08/10 15:34:56
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P(X>150)=∫[150,+∞]100/x²dx=-1/x|[150,+∞]=-lim(x->+∞)1/x+100/150=2/3
好像是辐射加强,所以在太阳下待的时间过长很可能出现基因变异之类的.
积分就行了:0,x<1000F(x)=1-1000/x,x>1000
(1)由ʃ+∞_͚α(X)dx=1ʃ+∞03k/(1+X²)d(x)=3Karctanx|+∞0=3k∏/2=1所以K=2/3∏(2)P=ʃ¹
自考的2010年7月试题:已知某种类型的电子元件的寿命X(单位:小时)服从指数分布,它的概率密度为f(x)=1/600^e^-e/600,x>00.x
(1600-1200)/σ=F^(-1)(0.96)=1.75,其中F是标准正态分布的累积分布函数==>σ=228.57希望对你有帮助,望采纳,谢谢~
P寿命>=180=1-p(X
X服从正态分布,则X的平方服从卡方分布.
到现在还没有这样的语音识别.
Wearelivinginasocietywhichischangingrapidly,wecangetaccesstoelectronicdeviceseverydayandwecan'tlivew
由指数的密度函数:f(x)=ae∧(-ax),(x>0).事件2a≥X≥0,则P(2a≥X≥0)=∫ae∧(-ax)dx,积分区间为(0,2a).解得:P=1-e∧(-2a²).
N(160,σ2)(X-160)/σ~N(0,1)P(120
是,因为要给机器内的电容电感充电
最新部颁的的标准是65%
步步高
原件服从指数分布设参数为λ,则其概率密度函数为f(x)=λe^(-x)分布函数为F(x)=1-e^(-λx)其均值EX=1/λ=1000于是参数λ=1/1000=0.001某个原件使用在1000小时内
a=[160281102213225361184245221357169423291260421149]//输入数据aam=mean(a)//求a的均值stda=std(a)//求a的样本标准差t=s
样本均值服从N(35,1)样本均值分布的标准差是1有15.9%的样本均值大于36小时x-35~N(0,1)--x>36-->x-35>1Ф(1)=0.8423-->1-0.8413=0.159有53.